1、個人基本信息：

姓 名：王偉征

性 別：男

出生年月：1984年10月

技術職稱：副教授

畢業(yè)院校：湖南大學

學歷（學位）：博士

所在學科：

計算機科學;通信與信息系統(tǒng)

研究方向：

人工智能安全，硬件安全等

2、教育背景：

2001.9-2005.7

湖南大學

學士

2005.9-2007.7

湖南大學

碩士提前攻博

2007.9-2011.12

湖南大學

工學博士

3、目前研究領域：

人工智能安全，集成電路安全，電路設計與測試

4、已完成或已在承擔的主要課題：

主持國家自然科學基金青年項目1項、湖南省教育廳優(yōu)秀青年項目1項；作為主要成員參與國家自然科學基金項目、教育廳重點項目、省級教改項目共4項；

（1） 國家自然科學基金青年項目“基于線性解壓器的測試壓縮技術效率提升及功耗優(yōu)化研究”(批準號：61303042)，2014-01至2016-12，23萬元，主持。

（2） 湖南省教育廳科學研究優(yōu)秀青年項目“數(shù)字系統(tǒng)低成本、高性能的可測試性設計技術研究”(批準號：17B011)，2018-01至2020-12，7萬元，主持。

（3） 國家自然科學基金項目“邏輯級破解納米集成電路軟錯誤可靠性評估難題的新方法”(批準號：61702052)，2018-01至2020-12，24萬元，參與。

（4） 湖南省教育廳重點青年項目 “空間輻射環(huán)境下納米集成電路瞬態(tài)故障分析與可靠性評估”(批準號：18A137)，2019-01至2021-12，10萬元，參與。

（5） 湖南省教育廳重點青年項目 “能量受限的視頻編碼理論與方法研究”(批準號：13A107)，2013-9至2016-8，6萬元，參與。

（6） 湖南省教改項目 “線上線下互動開放式“金課”的探索與實踐-以公共編程基礎課為例”(湘教通[2019]291號)，2019-09至2022-08，參與。

5、已出版的主要著作：

(1) 王偉征; 蔡爍; 吳宏林; 數(shù)字VLSI電路低費用低功耗測試技術, 南方出版社, 2018-12.

(2) 吳宏林;王偉征; 趙淑珍; 稀疏理論及其在信號處理中的應用, 南方出版社, 2019-08.

以第一作者發(fā)表相關論文15篇。其中，SCI檢索國際期刊論文11篇，EI檢索期刊論文3篇（含國內權威期刊《計算機研究與發(fā)展》1篇），國際會議International  MultiConference of Engineers and Computer Scientists論文1篇：

[1]  Weizheng Wang, Zhuo Deng, Jin Wang. Enhancing Sensor Network Security  with Improved Internal Hardware Design, Sensors, 2019, 19, 1752. (SCI)

[2]  Weizheng Wang, Jincheng Wang, Wei Wang, Peng Liu, Shuo Cai. A Secure  DFT Architecture Protecting Crypto Chips Against Scan-Based Attacks, IEEE  Access, 2019, 7: 22206-22213. (SCI)

[3]  Weizheng Wang, Zhuo Deng, Jin Wang. Securing Cryptographic Chips  Against Scan-based attacks in Wireless Sensor Network Applications, Sensors,  2019, 19, 4598. (SCI)

[4]  Weizheng Wang, Jincheng Wang, Zengyun Wang, Lingyun Xiang.  Access-in-turn test architecture for low-power test application,  International Journal of Electronics, 2017, 104(3): 433~441. (SCI)

[5]  Weizheng Wang, Jincheng Wang, Shuo Cai, Wei Su, Lingyun Xiang.  Compression-friendly low power test application based on scan slices reusing,  Journal of Semiconductor Technology and Science, 2016, 16(4): 463~469. (SCI)

[6]  Weizheng Wang, Cai Shuo, Lingyun Xiang. SOC Test Compression Scheme  Sharing Free Variables in Embedded Deterministic Test environment, Journal of  Semiconductor Technology and Science, 2015, 15(3): 397-403. (SCI)

[7]  Weizheng Wang, Cai Shuo, Lingyun Xiang. Scan Power-Aware Deterministic  Test Scheme Using a Low-Transition Linear Decompressor. International Journal  of Electronics, Vol. 102, No. 4, pp: 651-667, 2015 (SCI)

[8]  Weizheng Wang, Cai Shuo, Lingyun Xiang. Reducing Test Power and  Improving Test Effectiveness for Logic BIST, Journal of Semiconductor Technology  and Science, Vol. 14, No. 5, pp: 640-648,2014. (SCI)

[9]  Weizheng Wang, Liu Peng, Cai Shuo, Lingyun Xiang. Low power logic BIST  with high test effectiveness. IEICE Electronics Express, Vol. 10, No. 23, pp:  1-6, 2013. (SCI)

[10]  Weizheng Wang, Jishun Kuang, Liu Peng, Xin Peng, Zhiqiang You.  Switching activity reduction for scan-based BIST using weighted scan input  data. IEICE Electronics Express, Vol. 9, No. 10, pp: 874-880, 2012. (SCI)

[11]  Weizheng Wang, Jishun Kuang, Zhiqiang You. Achieving low capture and  shift power in linear decompressor-based test compression environment,  Microelectronics Journal, Vol. 43, No. 1, pp: 143-140, 2012. (SCI)

[12]  王偉征,鄺繼順,尤志強, 劉鵬. 一種基于掃描子鏈輪流掃描捕獲的低費用BIST方法, 計算機研究與發(fā)展, 第49卷, 第4 期,  864-872 頁, 2012. (EI)

[13]  Weizheng Wang, Jishun Kuang, Zhiqiang You, Liu Peng. Reducing  Test-Data Volume and Test-Power Simultaneously in LFSR Reseeding-based  Compression Environment, Journal of semiconductors, Vol. 32, No. 7, pp:  075009(1)-075009(7), 2011. (EI)

[14] Weizheng Wang, Jishun Kuang, Zhiqiang You. Low Power  Compression in linear decompressor-based test compression environment.  International Review on Computers and Software, Vol. 6, No. 4, pp: 550-554,  2011. (EI)

[15] Weizheng Wang, Jincheng Wang, Shuo Cai, Peng Liu, Tieqiao  Liu. A Low-Area Overhead Secure Scan Architecture Resisting Scan-Based  Attacks for Crypto Chips, Proceedings of the International MultiConference of  Engineers and Computer Scientists (IMECS 2017), Hong Kong, March 15-17.

7、 所獲學術榮譽及學術影響：

1、 中國計算機學會會員

2、 IEEE會員

3、 擔任IEEE Access、Electronics  Letters、Microelectronics  Journal等國際SCI期刊的審稿人