1、個人基本信息：

姓 名：蔡爍

性 別：男

出生年月：1982年10月

技術(shù)職稱：教授

畢業(yè)院校：湖南大學(xué)

學(xué)歷（學(xué)位）：博士

所在學(xué)科：計(jì)算機(jī)科學(xué)與技術(shù)、信息與通信工程

研究方向：容錯計(jì)算、電路系統(tǒng)可靠性、集成電路抗輻射加固設(shè)計(jì)、人工智能、物聯(lián)網(wǎng)可靠性

2、教育背景：

2000.9-2004.6

浙江大學(xué)

信息工程，學(xué)士

2004.9-2007.6

湖南大學(xué)

信號與信息處理，碩士

2010.9-2015.4

湖南大學(xué)

計(jì)算機(jī)科學(xué)與技術(shù)，博士

3、目前研究領(lǐng)域：

容錯計(jì)算、電路系統(tǒng)可靠性、集成電路抗輻射加固、人工智能、物聯(lián)網(wǎng)可靠性。

4、已完成或已在承擔(dān)的主要課題：

[1] 國家自然科學(xué)基金面上項(xiàng)目：基于相關(guān)性分離的邏輯電路失效率高效分析與敏感目標(biāo)精準(zhǔn)定位，2022.1-2025.12，No：62172058，主持，在研；

[2] 湖南省自然科學(xué)基金杰出青年基金項(xiàng)目：空間輻射環(huán)境下納米集成電路可靠性評估與加固設(shè)計(jì)，2022.1-2024.12，No：2022JJ10052，主持，在研；

[3] 湖南省自然科學(xué)基金面上項(xiàng)目：面向邏輯級超大規(guī)模集成電路軟錯誤率分析方法研究，2020.1-2022.12，主持，No：2020JJ4622，主持，已完成；

[4] 國家自然科學(xué)基金青年項(xiàng)目：邏輯級破解納米集成電路軟錯誤可靠性評估難題的新方法，2018.1-2020.12，No：61702052，主持，已完成；

[5] 湖南省教育廳重點(diǎn)項(xiàng)目：空間輻射環(huán)境下納米集成電路瞬態(tài)故障分析與可靠性評估，2019.9-2021.8，No：18A137，主持，已完成；

[6] 湖南省水利科技項(xiàng)目：大壩病害快速診斷與動態(tài)風(fēng)險控制決策研究，2020.7-2022.6，No：XSKJ2019081-47，主持，已完成。

6、已發(fā)表的學(xué)術(shù)論文：

[1]   Shuo Cai*, Caicai Xie, Yan Wen, Weizheng Wang, Fei Yu, Lairong Yin.   Four-input-C-element-based Multiple-Node-Upset-Self-Recoverable Latch   Designs. Integration, the VLSI Journal. 2023, 90:11-21

[2]   Shuo Cai*, Binyong He, Sicheng Wu, Jin Wang, Weizheng Wang, Fei Yu. An   Accurate Estimation Algorithm for Failure Probability of Logic Circuits Using   Correlation Separation. Journal of Electronic Testing-Theory and   Applications. 2022, 38(2): 165-180

[3]   Shuo Cai*, Sicheng Wu, Weizheng Wang, Fei Yu, Lairong Yin. Sensitive Vector   Search for Logic Circuit Failure Probability based on Improved Adaptive   Cuckoo Algorithm. Journal of Semiconductor Technology and Science. 2022,   22(2): 69-83

[4]   Fei Yu, Xinxin Kong, Huifeng Chen, Qiulin Yu, Shuo Cai*, Yuanyuan Huang,   Sichun Du. A 6D Fractional-Order Memristive Hopfield Neural Network and its   Application in Image Encryption. Frontiers in Physics. 2022, 10: 847385, 1-14

[5]   Fei Yu, Huifeng Chen, Xinxin Kong, Qiulin Yu, Shuo Cai*, Yuanyuan Huang,   Sichun Du. Dynamic Analysis and Application in Medical Digital Image   Watermarking of a New Multi-scroll Neural Network with Quartic Nonlinear   Memristor. European Physical Journal Plus. 2022, 137(4): 434

[6]   Shuo Cai*, Caicai Xie, Yan Wen, Weizheng Wang. A Low-Cost   Quadruple-Node-Upset Self-Recoverable Latch Design. 5th IEEE International   Test Conference in Asia, ITC-Asia 2021. 中國上海, 2021

[7]   Shuo Cai*, Binyong He, Weizheng Wang, et al. Soft Error Reliability   Evaluation of Nanoscale Logic Circuits in the Presence of Multiple Transient   Faults. Journal of Electronic Testing-Theory and Applications. 2020, 36(4):   469-483

[8]   Shuo Cai*, Binyong He, Sicheng Wu, et al. An Accurate and Efficient Approach   for Estimating the Failure Probability of Logic Circuits, 2020 CCF Integrated   Circuit Design and Automation Conference, 2020: 1-15

[9]   Shuo Cai*, Weizheng Wang, Fei Yu, Binyong He. Single Event Transient   Propagation Probabilities Analysis for Nanometer CMOS Circuits. Journal of   Electronic Testing - Theory and Applications. 2019, 35(2): 163-172

[10]   Shuo Cai*, Fei Yu, Yiqun Yang. Analysis of SET Pulses Propagation   Probabilities in Sequential Circuits, 2017 the 4th International Conference   on Advances in Electronics Engineering, 2017: 1-6

[11]   Shuo Cai*, Yinbo Zhou, Peng Liu, Fei Yu, Wei Wang. A Novel Test Data   Compression Approach Based on Bit Reversion. IEICE Electronics Express. 2017,   14(13): 1-11

[12]   Shuo Cai*, Fei Yu, Weizheng Wang, Tieqiao Liu, Peng Liu, Wei Wang.   Reliability Evaluation of Logic Circuits Based on Transient Faults   Propagation Metrics. IEICE Electronics Express. 2017, 14(7): 1-7

[13]   Cai Shuo, Kuang Jishun*, Liu Tieqiao, Wang Weizheng. Soft Error   Susceptibility Analysis for Sequential Circuit Elements Based on EPPMs.   Journal of Semiconductor Technology and Science. 2015, 15(2): 168-176

[14]   蔡爍*,鄺繼順,張亮,劉鐵橋,王偉征.基于差錯傳播概率矩陣的時序電路軟錯誤可靠性評估.計(jì)算機(jī)學(xué)報. 2015, 38(5):   923-931

[15]   蔡爍*,鄺繼順,劉鐵橋,凌純清,尤志強(qiáng).基于伯努利分布的邏輯電路可靠度計(jì)算方法.電子學(xué)報. 2015, 43(11)：2292-2297

[16]   蔡爍*,鄺繼順,劉鐵橋,王偉征.考慮信號相關(guān)性的邏輯電路可靠度計(jì)算方法.電子學(xué)報.2014, 42(8):   1660-1664

[17]   蔡爍*,鄺繼順,劉鐵橋,周穎波.一種高效的門級電路可靠度估算方法.電子與信息學(xué)報. 2013, 35(5):   1262-1266

[18]   蔡爍*,胡航滔,王威.基于深度卷積網(wǎng)絡(luò)的高分遙感圖像語義分割.信號處理, 2019. 35(12):   2010-2016

7、 所獲學(xué)術(shù)榮譽(yù)及學(xué)術(shù)影響：

[1] 湖南省杰出青年基金項(xiàng)目獲得者

[2] 湖南省青年骨干教師培養(yǎng)對象

[3] 中國計(jì)算機(jī)學(xué)會高級會員

[4] 中國通信學(xué)會會員

[5] 湖南省計(jì)算機(jī)學(xué)會理事

[6] 湖南省人工智能學(xué)會會員