2020年10月29日，計(jì)算機(jī)與通信工程學(xué)院王偉征副教授以長(zhǎng)沙理工大學(xué)作為第一作者單位的論文被《IEEE Transactions on Systems, Man and Cybernetics: Systems》期刊錄用。該期刊由美國(guó)電氣和電子工程師協(xié)會(huì)發(fā)行，是自動(dòng)化與控制系統(tǒng)和計(jì)算機(jī)科學(xué)領(lǐng)域的頂級(jí)期刊，近幾年該期刊影響力不斷上升，2020年最新影響因子達(dá)到了9.309，為JCR一區(qū)top期刊，在所有SCI期刊中影響因子排名前3.5%。

該論文“Ensuring Cryptography Chips Security by Preventing Scan-Based Side-Channel Attacks with Improved DFT Architecture”主要研究抗掃描攻擊的加密芯片可測(cè)性設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)。加密芯片應(yīng)用非常廣泛，其必須經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的測(cè)試，以保證加密和解密的正確性。掃描設(shè)計(jì)是一種常用的可測(cè)試設(shè)計(jì)（Design For Testability, DFT)技術(shù)，極大提高了測(cè)試質(zhì)量，但也為黑客竊取密鑰開(kāi)啟了后門(mén)。本文提出了一種新的掃描設(shè)計(jì)方案，在保證測(cè)試質(zhì)量的前提下提高了芯片的安全性。當(dāng)芯片進(jìn)入測(cè)試模式時(shí)，需要通過(guò)一些外部輸入端口輸入測(cè)試密碼（包括加載密碼和掃描密碼）。一旦輸入了正確的加載密碼，掃描密碼就可以加載到一個(gè)特殊的移位寄存器中；如果掃描密碼也正確，芯片測(cè)試可以正常進(jìn)行。否則，由掃描密碼中的不匹配位控制的掃描觸發(fā)器將把虛假值傳播到后續(xù)的掃描觸發(fā)器中。該方案通過(guò)對(duì)掃描輸入數(shù)據(jù)和掃描輸出數(shù)據(jù)的動(dòng)態(tài)混淆實(shí)現(xiàn)了抵抗基于掃描的側(cè)信道攻擊的目的。與同類(lèi)方案相比本文方案的優(yōu)點(diǎn)是，不但能夠?qū)用苄酒峁?qiáng)有力的保護(hù)，而且不會(huì)對(duì)芯片性能和測(cè)試流程產(chǎn)生任何負(fù)面影響，硬件開(kāi)銷(xiāo)也非常之低。