2019年12月17日，應(yīng)我院邀請，鄭州大學(xué)劉俊杰教授為我院師生作了一場題為“Compact Modeling of Junction Failure in Semiconductor Devices Subject to Electrostatic Discharge Stresses”的學(xué)術(shù)講座。報(bào)告會由鄒望輝副教授主持，部分老師、本科生和全體研究生參加了此次講座。

劉俊杰教授已多次來我院進(jìn)行學(xué)術(shù)交流，本次劉教授帶來的講座內(nèi)容與前幾次講座內(nèi)容是息息相關(guān)的，緊承上次講座介紹的靜電保護(hù)。本次講座劉教授主要向我們介紹了從靜電放電與破壞的基理開始，再到靜電破壞的建模，最后到模型的應(yīng)用與未來的前景這幾個部分。重點(diǎn)解說了建模時需要先對仿真模型進(jìn)行等效電路的分析，確定各個參數(shù)值，在建模完成后再進(jìn)行仿真分析確定器件的魯棒性等性能。講解過程中以自己的親身經(jīng)歷為例，讓大家深入理解。報(bào)告結(jié)束后，大家都紛紛向劉教授提問，劉教授也一一進(jìn)行了解答。報(bào)告內(nèi)容豐富、生動、精彩，讓大家都受益匪淺，報(bào)告會取得了圓滿成功。